장비소개

1. 특징 1) 본 장비는 분말/벌크 시료에 대한 결정상 및 결정구조 정보를 분석하는 엑스선 회절분석기이다. 2) 본 장비는 3kW 이상의 엑스선 발생장치 및 대반경 고니오미터를 갖추고 있다.2. 세부규격 1) 엑스선 발생장치 (1) 최대 출력 : 3kW 이상 (2) 엑스선 타겟 : 구리(Cu) (3) 엑스선 튜브 출력 : 2.2kW 이상 (4) 엑스선 튜브 타입 : 롱파인 포커스 (LFF) 타입 (5) 안전 장치를 갖춘 방사선 차폐막 : 장착 2) 대반경 고니오미터 (1) 기하구조 : 시료 수평형 세타/세타( / ) 구조 (2) 최소 구종 단위 : 0.0001도 이하 (3) 고니오미터 반경 : 300mm 이상 3) 슬릿 시스템 (1) 입사부 슬릿 : 자동 가변형 슬릿 (모터에 의한 제어) (2) 수광부 슬릿 : 자동 가변형 슬릿 (모터 의한 제어) 4) 시료대 (1) 시료대 장착 방식 : 클립에 의한 거치 방식 5) 구동 소프트웨어 (1) 표준 및 수동 측정 기능 (2) 자동 측정 안내 기능 (3) 다중 데이터 핸들링 기능 (4) 할터-와그너 법(Halder Wagner method)에 의한 결정립 크기 분석

FeatureUnique four-lens Wide Field Optics design offering the variety of working and displaying modes embodying the TESCAN proprietary Intermediate Lens (IML) for the beam aperture optimisation.The proprietary Intermediate Lens (IML) that works as an Aperture Changer makes the exchange of the effective final aperture in an electromagnetic wayReal time In-Flight Beam Tracing for the performance and beam optimisation integrating the well-established software Electron Optical DesignThe column construction, without any mechanical centring elements, allows fully automated column set-up and alignmentSuperior specimen handling using a fully motorized compucentric stageTESCAN VEGA microscopes can be configured in 4 different chamber sizes: SB, LM, XM, and GM. These chambers are fitted with a variety of ports and designed with optimal geometry for EDX, WDX and EBSD analysis.